MC3M3-03X
Nahezu verzeichnungsfreies Multikonfigurations-Makroobjektiv für Sensoren bis zu 1.1"
Hauptvorteile
- Große Bandbreite an Vergrößerungen
Der MC3M3-03X eignet sich für die Inspektion von Objekten unterschiedlicher Größe. - Nahezu verzeichnungsfrei
Dank der unter 0.05% liegenden Verzeichnung bei jeder Vergrößerung ist dieses Objektiv ideal für Messanwendungen. - Perfekte Mischung von optischen Parametern
Bei Veränderung der Vergrößerung wird auch die effektive Blendenzahl der Linse verändert, sodass Auflösung und Verzeichnung immer optimiert sind. - Großer Bildkreis für Sensoren bis zu 1.1”
MC3M3-03X ist ein Makroobjektiv mit Multi-Konfiguration für die Inspektion von Objekten mit einer Größe von wenigen Millimetern bis zu einigen Zentimetern. Mit Hilfe eines arretierbaren Drehknopfs können die Vergrößerung und der Fokus eingestellt werden.
Der Vergrößerungsbereich des Objektivs kann mit Hilfe eines Satzes von Verlängerungsrohren, die im Lieferumfang enthalten sind, gewählt werden; diese Eigenschaft macht dieses Bauteil ideal für Prototyping-Zwecke und für Bildverarbeitungsanwendungen, die Flexibilität erfordern. Da die Arbeits-F-Zahl mit der Vergrößerung
zunimmt, bleibt die optimale Kombination aus Schärfentiefe, Bildauflösung und Helligkeit bei jeder Objektivkonfiguration erhalten.
Dank der weitgehenden optischen Verzeichnungsfreiheit bei jeder Vergrößerung eignet sich dieses Objektiv hervorragend für Messanwendungen.
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Anwendungsbeispiele
- Hochpräzise Inspektion von PCBs und elektronischen Komponenten
- Inspektion von Proben mit Objekten unterschiedlicher Größe
Hinweise
- Arbeitsabstand: Abstand zwischen dem vorderen Ende der Mechanik und dem Objekt. Dieser Abstand muss innerhalb von ± 3 % des nominalen Werts liegen, um maximale Auflösung und minimale Verzeichnung zu gewährleisten.
- Effektive Blendenzahl (wf/N): Die reale Blendenzahl eines als Makro verwendeten Objektivs. Objektive mit kleinerer Apertur können auf Anfrage geliefert werden.
- Abweichung von einem realen zu einem idealen, verzeichnungsfreien Bild in Prozent.
- An den Rändern der Schärfentiefe kann das Bild noch für Messungen verwendet werden. Für ein sehr scharfes Bild darf allerdings nur die Hälfte der Schärfentiefe genommen werden. Bei der Berechnung wurde Pixelgröße 3,45 μm verwendet.
- Objektseitig, berechnet mit dem Rayleigh-Kriterium bei λ= 520 nm
- Gemessen vom vorderen Ende der Mechanik zum Kameraflansch.
